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Tra le altre prove offriamo:

Microscopia elettronica

Il microscopio elettronico a scansione (SEM) consente l’osservazione ad elevato ingrandimento sia di campioni metallografci sia delle superfci di frattura di componenti danneggiati.

L’utilizzo di questo strumento permette di osservare i campioni con elevate risoluzioni e buona profondità di campo.

L’abbinamento al SEM di una sonda per microanalisi permette di eseguire analisi chimiche semiquantitative sui microcostituenti della superfcie, identifcare segregazioni, seconde fasi, inclusioni, ecc.

Hammer possiede un microscopio elettronico a scansione corredato di sistema di microanalisi EPD con sistema di acquisizione elettronico delle immagini e dei dati.

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